ANSI/IEEE 1450.6-2005 数字检测矢量数据的标准测试接口语言(STIL).芯子测试语言(CTL)
作者:标准资料网 时间:2024-05-19 17:55:49 浏览:9707
来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:StandardTestInterfaceLanguage(STIL)forDigitalTestVectorData-CoreTestLanguage(CTL)
【原文标准名称】:数字检测矢量数据的标准测试接口语言(STIL).芯子测试语言(CTL)
【标准号】:ANSI/IEEE1450.6-2005
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2005-12-29
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:芯片;数字的;环境;外部;界面;语言;逻辑;;试验
【英文主题词】:Chips;Digital;Environment;External;Interfaces;Languages;Logic;Testdata;Tests
【摘要】:DevelopsalanguagethatwillprovideasufficientdescriptionofacoretosupportreuseoftestdatadevelopedforthatcoreafterintegrationintoSoC[SystemsonChip]environments,andtoenablethecreationoftestpatternsforthelogicintheSoCexternaltothecore.
【中国标准分类号】:L74
【国际标准分类号】:35_060
【页数】:
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:数字检测矢量数据的标准测试接口语言(STIL).芯子测试语言(CTL)
【标准号】:ANSI/IEEE1450.6-2005
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2005-12-29
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:芯片;数字的;环境;外部;界面;语言;逻辑;;试验
【英文主题词】:Chips;Digital;Environment;External;Interfaces;Languages;Logic;Testdata;Tests
【摘要】:DevelopsalanguagethatwillprovideasufficientdescriptionofacoretosupportreuseoftestdatadevelopedforthatcoreafterintegrationintoSoC[SystemsonChip]environments,andtoenablethecreationoftestpatternsforthelogicintheSoCexternaltothecore.
【中国标准分类号】:L74
【国际标准分类号】:35_060
【页数】:
【正文语种】:英语
下载地址: 点击此处下载
